全麵分析LED的可靠性試驗的必要性

我司生產(chan) 的可靠性環境試驗設備在LED行業(ye) 應用非常廣泛，在從(cong) 事業(ye) 務過程中，常常會(hui) 接到客戶說：“我們(men) 是LED行業(ye) 的，你幫我推薦些試驗設備吧"。那麽(me) LED行業(ye) 到底需要哪些設備呢？

LED在實際使用中，由於(yu) 複雜的環境以及封裝工藝局限性從(cong) 而使封裝材料退化、熒光粉退化、金屬電遷移、局部溫度過高產(chan) 生的熱應力所引起的芯片和矽膠的分層或金線斷裂等等，從(cong) 而影響LED發光甚至導致整個(ge) LED的失效。而且LED產(chan) 生的高溫會(hui) 導致芯片的發光效率降低，光衰加快、色移等嚴(yan) 重後果。

 LED照明係統中的典型失效模態

由於(yu) LED壽命長，通常采取加速環境試驗的方法進行可靠性測試與(yu) 評估。加速度測試將會(hui) 模仿燈具的應用條件或用戶要求，這樣可以更有效地研究各種破壞機理，提供大量數據去研究LED的結構、材料、工藝從(cong) 而更好完善LED產(chan) 品。一些典型的加速可靠性試驗。

應用於(yu) LED照明係統的典型加速可靠性實驗

    然而，加速老化試驗隻是研究問題的一個(ge) 方麵，對LED壽命的預測機理和方法的研究仍是有待研究的難題。現在的LED技術麵臨(lin) 著巨大的挑戰和機遇。企業(ye) 的目標主要是保證產(chan) 品長期的可靠性，例如，根據產(chan) 品不同，LED應用的範圍壽命從(cong) 7000小時到50000～100000小時不等。這對於(yu) 一個(ge) 電子企業(ye) 是有相當挑戰性的，因為(wei) 他們(men) 的電子產(chan) 品現在隻有2-3年壽命。對於(yu) 50000～100000小時的SSL係統（包括電源驅動），有必要進行可靠性設計，以符合產(chan) 品的高要求。

　　目前，如何通過加速老化試驗準確地預測LED產(chan) 品的可靠性還是相當有挑戰性的。對於(yu) LED產(chan) 品的長期可靠性，應當關(guan) 注如何建立用加速試驗來反映產(chan) 品中出現的問題。對於(yu) 了解和預測宏觀係統的可靠性，可測性非常具有挑戰性，主要是因為(wei) 可靠性是一個(ge) 多學科的問題，並且涉及到材料、設計、製造工藝、試驗和應用條件。因此，有必要開發LED燈和燈具的加速試驗以及戶外照明燈具性能測試實驗，從(cong) 而可以有效地研究關(guan) 於(yu) LED的各種破壞機理。

飛利浦公司目前致力於(yu) 研究可靠性測試標準，從(cong) 而深入了解LED以及電源驅動的失效機理。去年年底已經在我司訂製了一台快速升降溫的試驗箱。

為(wei) 此，LED行業(ye) 需要用到恒溫恒濕試驗箱，高低溫試驗箱，快速溫變試驗箱，高低溫衝(chong) 擊試驗箱，電磁振動試驗台，模擬運輸振動試驗台，淋雨試驗箱，砂塵試驗箱等，我們(men) 公司可以成套銷售，為(wei) 您解決(jue) 一站式服務，歡迎前來公司實地考察，谘詢。